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FPL-3230 Durchlicht-Auflicht-Polarisationsmikroskop

Das FPL-3230 Durchlicht-Auflicht-Polarisationsmikroskop ist ein unverzichtbares Instrument zur Erforschung und Identifizierung von doppelbrechenden Substanzen durch Nutzung der Polarisationseigenschaften von Licht. Es ermöglicht dem Benutzer die Beobachtung mit linear polarisiertem Licht, gekreuztem polarisiertem Licht und konoskopischer Beobachtung. Es findet breite Anwendung in Forschungs- und Prüfbereichen wie Geologie, Chemieingenieurwesen, Medizin und Pharmazie und kann auch zur Kristallphasenbeobachtung von flüssigen Polymermaterialien, Biopolymeren und Flüssigkristallmaterialien eingesetzt werden. Es ist ein ideales Instrument für Forschung und Lehre in wissenschaftlichen Forschungseinrichtungen und Hochschulen.
Beschreibung des Produkts
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Übersicht des FPL-3230 Durchlicht-Auflicht-Polarisationsmikroskops

   Das FPL-3230 Durchlicht-Auflicht-Polarisationsmikroskop ist ein unverzichtbares Instrument zur Erforschung und Identifizierung doppelbrechender Substanzen durch Nutzung der Polarisationseigenschaften von Licht. Es ermöglicht die Beobachtung mit linear polarisiertem Licht, gekreuztem polarisiertem Licht und konoskopischer Beobachtung. Es findet breite Anwendung in Forschungs- und Untersuchungsbereichen wie Geologie, Chemieingenieurwesen, Medizin und Pharmazie und kann auch zur Kristallphasenbeobachtung von flüssigen Polymermaterialien, Biopolymeren und Flüssigkristallmaterialien eingesetzt werden. Es ist ein ideales Instrument für Forschung und Lehre in wissenschaftlichen Einrichtungen und Hochschulen.


Leistungsmerkmale des FPL-3230 Durchlicht-Auflicht-Polarisationsmikroskops

lVerwendet ein unendliches optisches System und modular funktionales Design.

lAusgestattet mit unendlichen spannungsfreien Planobjektiven mit langem Arbeitsabstand.

lSchwenkbarer Beobachtungstubus: Dreiäugiger Beobachtungstubus mit einstellbarem monokularem Dioptrienausgleich, um 30° geneigt. Ermöglicht 100% Lichtdurchlässigkeit für Fotografie und kann mit Kamerageräten verbunden werden.

lOkulare: WF10X Weitfeld-Planokulare mit einem Sehfeld von Ø22mm, bieten einen weiten und flachen Beobachtungsraum.

lObjektive: Spannungsfreie Planachromat-Objektive (deckglasfrei) mit einstellbaren Zentren, gewährleisten die Übereinstimmung des Objektivzentrums mit dem Mittelpunkt des Drehtisches.

lKoaxiale Grob- und Feinfokussierung mit einstellbarer Grobfokussierspannung und einer Begrenzungssperre. Der Feinfokussier-Skalenwert beträgt 2µm.

lDie Polarisationsbeobachtungseinrichtung kann in den Strahlengang ein- oder ausgeschwenkt werden. Sowohl der Polarisator als auch der Analysator können um 360° gedreht werden.

lDrehtisch mit 360°-gleichmäßiger Teilung, Nonius-Skalenwert von 6', einstellbarem Zentrum und einer Sperrvorrichtung. Der vertikale effektive Hub des Tisches beträgt 30mm.

lWeitbereichsnetzteil (85-265V 50/60Hz). Beleuchtet durch eine 6V30W Halogenlampe mit einstellbarer Helligkeit.

lSchiebeanalysator: 360° drehbar mit Skala und Feinnonius.

lZwischenstück: Eingebautes schiebbares Bertrand-Linse mit einstellbarem Zentrum.

lTisch: Drehtisch mit 360°-gleichmäßiger Teilung, Nonius-Skalenwert von 6', einstellbarem Zentrum und einer Sperrvorrichtung. Der vertikale effektive Hub des Tisches beträgt 30mm.

lDurchlichtbeleuchtungssystem: 6V30W Halogenlampe mit einstellbarer Helligkeit, bietet eine helle und klare Sichtfeldeffekt.

lPolarisator: 360° drehbare Polarisationrichtung mit vier Rastpositionen bei 0°, 90°, 180° und 270°, unter der Blendenblende platziert.

lAuflichtbeleuchtungssystem: 6V30W Halogenlampe mit einstellbarer Helligkeit. Eingebaute Feld- und Aperturblende. Schiebbarer Polarisator mit 360°-Drehung. Einfache und schnelle Glühbirnenwechselmethode, die ohne Werkzeuge durchgeführt werden kann.

Technische Parameter des FPL-3230 Durchlicht-Auflicht-Polarisationsmikroskops


Kategorie

Spezifikationen

Okular

1. Weitfeld WF10X (Ø22mm)

2. Fadenkreuzokular 10X (Sehfeldzahl Ø22mm), Skalenwert 0,10mm/Teilung

Spannungsfreie Planachromat-Objektive (deckglasfrei)

1. PL L5X/0.12, Arbeitsabstand: 26,1 mm

2. PL L10X/0.25, Arbeitsabstand: 20,2 mm

3. PL L40X/0.60 (federnd), Arbeitsabstand: 3,98 mm

4. PL L60X/0.75 (federnd), Arbeitsabstand: 2,03 mm

Auflichtbeleuchtungssystem

1. 6V30W Halogenlampe, Helligkeit einstellbar

2. Polarisator: 360° drehbar

3. Analysator: 360° drehbar, mit Skala und Feinjustiernonius

4. Eingebaute Feld- und Aperturblende

Revolver

Vierloch (Revolverzentrum einstellbar)

Zwischenstück

Schiebbares Bertrand-Linse

Kompensator

λ, λ/4 und Quarzkeilkompensatoren

Fokussiermechanismus

Koaxiale Grob- und Feinfokussierung, mit Sperr- und Begrenzungsvorrichtung, Feinfokussier-Skalenwert: 2µm

Kamera

FEG-Serie Kamera mit Sony-Chip, 12-Megapixel

Adapter

0,65X Adapter mit C-Mount

Software

Professionelle Polarisationmikroskopie-Software für Gesteine

Gesteins-(Polarisations-)Mikroskopie-Software


Bildanalyse

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1】 Partikelgrößenanalyse (manuelle Durchmessermessmethode) ………SY/T 6103-2004 & SY/T 5434-2009

lMessung der Partikeldurchmesser durch Ziehen der Maus; Berechnung des maximalen, minimalen und durchschnittlichen Durchmessers; automatische Erzeugung von 4 Kurventypen einschließlich angepasster kumulativer Kurve, linearer kumulativer Kurve, Histogramm und Frequenzkurve; der Messvorgang kann gespeichert und geladen werden.

lAnalyseoberfläche

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lMessungs-Screenshot

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lAnalysedaten

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lDatenstatistikdiagramm

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(Speichern der aktuellen Arbeit als Datei)


2】 Porencharakteristikanalyse (manuelle Flächenmessmethode) ………SY/T 6103-2004 & SY/T 5434-2009

lUmreißen der Porenfläche durch Ziehen der Maus, um die Porenfläche zu erhalten, und die Software berechnet automatisch die Porosität; der Messvorgang kann gespeichert und geladen werden.

lAnalyseoberfläche

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lMessungsprozess-Screenshot

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(Speichern der aktuellen Arbeit als Datei)

3】 Gesteinsdünnschliff-Partikelgrößenanalyse (automatische Berechnung) ………SS/YS 03-2003

lAuswahl der Farben der zu analysierenden Partikel auf dem Bild mit der Maus (bis zu 6 Farben verfügbar), dann Einstellung der Suchparameter zur Identifizierung der Zielpartikel und Berechnung des Partikelanteils. Gleichzeitig werden automatisch eine Reihe von Daten berechnet, einschließlich Gesamtzahl der Partikel, durchschnittlicher Partikeldurchmesser, durchschnittliche Querschnittsfläche, durchschnittliche Schnittlänge, Feret-Durchmesser, minimaler Durchmesser, maximaler Durchmesser, durchschnittliche kleine Achsenlänge und der Anteil der Partikel mit einem Seitenverhältnis größer als 0,5.

lAnalyseoberfläche

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lKlicken Sie auf das Bild, um Farben auszuwählen

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lDurchführen der entsprechenden Bildverarbeitung nach Bedarf

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lKlicken "Partikelanalyse", um das Bild zu verarbeiten

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lAnalysedaten

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4】 Gussdünnschliff-Porencharakteristikanalyse (automatische Berechnung 1) ………SS/YS 04-2003

lAuswahl der Porenfarbe auf dem Bild mit der Maus, dann Einstellung der Suchparameter zur Identifizierung der Zielporen. Die Software berechnet automatisch die Porosität sowie eine Reihe von Werten einschließlich Gesamtzahl der Poren, maximaler Porenradius, minimaler Porenradius und durchschnittlicher Porenradius.

lAnalyseoberfläche

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lAnalysedaten

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5】Gussdünnschliff-Porencharakteristikanalyse (automatische Berechnung 2) ………SS/YS 05-2005

lAuswahl der Porenfarbe auf dem Bild mit der Maus, dann Einstellung der Suchparameter zur Identifizierung der Poren. Die Software berechnet automatisch die Porosität sowie eine Reihe von Werten einschließlich Gesamtzahl der Poren, maximaler Porenradius, minimaler Porenradius und durchschnittlicher Porenradius.

lAnalyseoberfläche

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6】Gussdünnschliff-Porencharakteristikanalyse ………SY/T 6103-2004 & SY/T 5434-2009

lAuswahl der Porenfarbe auf dem Bild mit der Maus, dann Einstellung der Suchparameter zur Identifizierung der Poren. Die Software berechnet automatisch die Porosität sowie eine Reihe von Werten einschließlich Gesamtzahl der Poren, maximaler Porenradius, minimaler Porenradius und durchschnittlicher Porenradius.

lSoftwareoberfläche

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lAnalysierte Daten

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7】Diamantbildanalyse (automatische Berechnung) ………SS/YS 01-2006

lAuswahl der Zielfarbe auf dem Bild mit der Maus, dann Einstellung der Suchparameter zur Identifizierung von Diamantpartikeln. Die Software berechnet automatisch den Flächenanteil der Diamanten sowie eine Reihe von Werten einschließlich Gesamtzahl der Poren, maximaler Porenradius, minimaler Porenradius und durchschnittlicher Porenradius.

lSoftwareoberfläche

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lAnalysierte Daten

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8】Partikelgrößenanalyse (Farbextraktionsmethode) ………SY/T 6103-2004 & SY/T 5434-2009

lAuswahl der Farben der zu analysierenden Partikel auf dem Bild mit der Maus (bis zu 6 Farben verfügbar), dann Einstellung der Suchparameter zur Identifizierung der Zielpartikel und Berechnung des Partikelanteils. Gleichzeitig werden automatisch eine Reihe von Werten berechnet, einschließlich Gesamtzahl der Partikel, durchschnittlicher Durchmesser, durchschnittliche Querschnittsfläche, durchschnittliche Schnittlänge, Feret-Durchmesser und andere relevante Parameter.

lSoftwareoberfläche

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lAnalysierte Daten

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9】Porencharakteristikanalyse (Farbextraktionsmethode) ………SY/T 6103-2004 & SY/T 5434-2009

lAuswahl der Farben der zu analysierenden Poren auf dem Bild mit der Maus (bis zu 6 Farben verfügbar), dann Einstellung der Suchparameter zur Identifizierung der Zielporen und Berechnung der Porosität. Gleichzeitig werden automatisch eine Reihe von Werten berechnet, einschließlich Gesamtzahl der Poren, maximaler Porenradius, minimaler Porenradius, durchschnittlicher Porenradius und andere relevante Parameter.

lAnalyseoberfläche

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10】Bestimmung des Mineralzusammensetzungsanteils (Bildanalyse) ………SS/YS 10-2007

lAuswahl der Farben von 8 Komponententypen mit der Maus und Festlegung der Toleranz für jede Komponente. Basierend auf diesen Daten identifiziert die Software die entsprechenden Strukturen auf dem Bild und berechnet deren Fläche und Flächenanteil. Es unterstützt sowohl die Einzelbildanalyse als auch die Stapelanalyse aller Bilder in einem bestimmten Verzeichnis.

lAnalyseoberfläche

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lKlicken Sie auf die entsprechende Komponente und wählen Sie ihre Farbe auf dem Bild aus.

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lKlicken Sie auf die"Einzelbildberechnung"-Schaltfläche, um die Analyse durchzuführen.

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lDatenliste

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11】Bestimmung des Mineralzusammensetzungsanteils (Zauberstab) ………SS/YS 01-2008

lAuswahl der zu analysierenden Strukturen auf dem Gesteinsbild mit dem Zauberstab-Werkzeug, und die Software berechnet deren Fläche und Flächenanteil.

lAnalyseoberfläche

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lAnalysierte Datenliste

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12】Bestimmung des Mineralzusammensetzungsanteils (Bildanalyse 2) ………SS/YS 02-2008

lAuswahl der Farben von 8 Komponententypen mit der Maus und Festlegung der Toleranz für jede Komponente. Basierend auf diesen Daten identifiziert die Software die entsprechenden Strukturen auf dem Bild und berechnet deren Fläche und Flächenanteil.

lAnalyseoberfläche

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lKlicken Sie auf die entsprechende Komponente und wählen Sie ihre Farbe auf dem Bild aus.

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lKlicken Sie auf die"Bildanalyse"-Schaltfläche, um das Bild zu verarbeiten

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lAnalysierte Datenliste

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Shandong Laishi Automation Technology Co., Ltd

Shandong Laishi Automation Technology Co., Ltd. (im Folgenden „Laishi“ genannt) besteht aus einem technischen Team mit mehr als 10 Jahren Erfahrung in Forschung, Entwicklung und Fertigung. Das eingetragene Kapital des Unternehmens beträgt 3 Millionen Yuan. Wir sind spezialisiert auf Forschung und Entwicklung, Produktion und Vertrieb verschiedener Desktop-Härteprüfgeräte und metallografischer Probenentnahmegeräte und bieten professionelle Forschungs- und Vertriebsdienstleistungen für physikalische und chemische Prüfgeräte, Laborgeräte, Analysegeräte und Automatisierungsgeräte.

Verpackung und Versand

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